Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
http://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/18533Toàn bộ biểu ghi siêu dữ liệu
| Trường DC | Giá trị | Ngôn ngữ |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Nicolas BroduschHendrix DemersRaynald Gauvin | |
| dc.date.accessioned | 2018-03-13T11:32:24Z | - |
| dc.date.available | 2018-03-13T11:32:24Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.identifier | 978-981-10-4433-5 | |
| dc.identifier.uri | http://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/18533 | - |
| dc.language.iso | eng | |
| dc.publisher | Springer | |
| dc.title | Field Emission Scanning Electron Microscopy | |
| dc.title.alternative | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology | |
| dc.type | ebook | |
| Bộ sưu tập: | Multi-Discipline | |
Các tập tin trong tài liệu này:
| Tập tin | Mô tả | Kích thước | Định dạng | |
|---|---|---|---|---|
| 978-981-10-4433-5.pdf | 7,23 MB | Adobe PDF | Đăng nhập để xem toàn văn |
Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.