Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
https://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/18533| Nhan đề: | Field Emission Scanning Electron Microscopy |
| Nhan đề khác: | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology |
| Tác giả: | Nicolas BroduschHendrix DemersRaynald Gauvin |
| Năm xuất bản: | 2018 |
| Nhà xuất bản: | Springer |
| Định danh: | http://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/18533 |
| Định danh khác: | 978-981-10-4433-5 |
| Bộ sưu tập: | Multi-Discipline |
Các tập tin trong tài liệu này:
| Tập tin | Mô tả | Kích thước | Định dạng | |
|---|---|---|---|---|
| 978-981-10-4433-5.pdf | 7,23 MB | Adobe PDF | Đăng nhập để xem toàn văn |
Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.