Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
https://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/17000| Nhan đề: | Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques |
| Tác giả: | Selahattin Sayil |
| Từ khoá: | Engineerring |
| Năm xuất bản: | 2018 |
| Nhà xuất bản: | Springer |
| Định danh: | http://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/17000 |
| Định danh khác: | 10.1007/978-3-319-69673-7 |
| Bộ sưu tập: | Engineering |
Các tập tin trong tài liệu này:
| Tập tin | Mô tả | Kích thước | Định dạng | |
|---|---|---|---|---|
| 978-3-319-69673-7.pdf | 2,4 MB | Adobe PDF |  Đăng nhập để xem toàn văn |
Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.